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GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法

时间:2024-05-28 14:05:13 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8794
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基本信息
标准名称:半导体材料牌号表示方法
英文名称:Designations of semiconductor materials
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类:
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1993-01-02
实施日期:1994-09-01
首发日期:1993-12-30
作废日期:1900-01-01
主管部门:国家标准化管理委员会
归口单位:全国半导体材料和设备标准化技术委员会
起草单位:中国有色金属工业总公司
出版社:中国标准出版社
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:6, 字数:7千字
适用范围

本标准规定了半导体多晶、单晶、晶片和外延片产品牌号的表示方法。本标准适用于编制半导体材料的牌号。

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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合
基本信息
标准名称:钨精矿化学分析方法 铋量的测定 火焰原子吸收光谱法
英文名称:Methods for chemical analysis of tungsten concentrates - Determination of bismuth content - Flame atomic absorption spectrometric method
中标分类: 冶金 >> 有色金属及其合金产品 >> 稀有高熔点金属及其化合物
ICS分类: 冶金 >> 有色金属 >> 其他有色金属及其合金
替代情况:替代GB/T 6150.17-1985
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2008-03-31
实施日期:2008-09-01
首发日期:1985-06-21
作废日期:
主管部门:中国有色金属工业协会
提出单位:中国有色金属工业协会
归口单位:全国有色金属标准化技术委员会
起草单位:赣州有色冶金研究所、中国有色金属工业标准计量质量研究所、自贡硬质合金有限责任公司、湖南柿竹园有色金属有限责任公司
起草人:钟道国、潘建忠、张江峰
出版社:中国标准出版社
出版日期:2008-09-01
页数:6页
计划单号:20061637-T-610
书号:155066·1-31478
适用范围

本部分规定钨精矿中铋含量的测定方法。 本部分适用于钨精矿中铋含量的测定,测定范围:0.01%~0.30%。 本部分代替GB/T6150.17—1985《钨精矿化学分析方法 半二甲酚橙光度法测定铋量》。
本部分与GB/T6150.17—1985相比主要变化如下:
———测定方法由半二甲酚橙光度法改为火焰原子吸收光谱法;
———增加了8.1重复性条款。

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所属分类: 冶金 有色金属及其合金产品 稀有高熔点金属及其化合物 冶金 有色金属 其他有色金属及其合金
【英文标准名称】:Photography-RollFilmCameras-BackWindowLocationandPictureSizes
【原文标准名称】:摄影技术.胶卷相机.后窗位置和画面尺寸
【标准号】:ANSI/ISO1203-1984
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:后窗位置;位置;胶卷;摄影机
【英文主题词】:rollfilm;position;backwindowlocation;cameras
【摘要】:Specifiesthelocationofbackwindowsofrollfilmcamerasinrelationtothenumberofexposuresandfilmsizestheyaredesignedtoaccommodate.
【中国标准分类号】:N46
【国际标准分类号】:37_040_10
【页数】:
【正文语种】:英语